Search Blog...

Jumat, 05 Februari 2010

Miroskop JArum,, Melihat dunia atom dengan jarum??

Terdapat bnyak Mikroskop jenis mikroskop Jarum (Scanning Probe Microscop),, daintaranya

- AFM-Atomic Force Microsopy (menggunakan parameter gaya sebagai responnya),
- TEM-Tunneling Elektron Microscopy (menggunakan prinsip penerobosan kuantum ihhhhh,,,,)
- MFM-Magnetik Force Microscopy (ya pasti pake parameter magnetik...
-Masih banyak lagihh,,,

Nah yang kita bahas sekarang,, yangAFM dulu aja ya,,, ini skemanya :



































Terdapat beberapa komponen penting pada AFM seperti Tip (ujung jarum), Cantilever, scanner.


1) Tip
Tip merupakan ujung dari jarum pada ujung cantilever, tempat diamana terjadi kontak dengan sampel yang akan dicitrakan. Ktelitian dari hambar yang dihasilkan sangat tergantung dari besar atau kecilnya tip ini. Material yang dipakai pada tip ini biasanya terbuat dari Silikon atau Silikon Nitrida (Si3N4). Material ini digunakan selain tahan lama juga menjadikan sampel menjadi anti air. Ujung dari tip ini biasanya sekitar 10nm atau 100 atom.



Contoh tip AFM :









2) Cantilever
Cantilever merupakan tempat dimana tip menempel, juga berfungsi sebagai tempat mendaratnya sinar laser. Bahan dari Cantilever ini pada umumnya sama dengan bahan pada pada tip, bentuknya biasanya” V” pada ujungnya atau berbentuk datar saja “I”. Ukuran dari suatu cantilever ini berkisar 100 microns/ 0.1mm, dan hanya memiliki beberapa mikron untuk tebalnya. Keadaan ini menjadikan cantilevr ini fleksibel tetapi masih kuat untuk menahan, tip pada ujungnya.




3) Scanner
Terdapat dua cara untuk menggeser sampel untuk diambil citranya oleh tip,yaitu pertama dengan cara menggerakan sampel yang akan diamati sedangkan tip diam atau dengan cara menggerakan tip untuk megeksplorasi seluruh permukaan sampel. Sebagai penggerak scanner ini biasanya terbuat dari material Piezoelktrik dimana dapat mengubah tekanan menjadi suatu tegangan listrik utuk diolah pada komputer atau sebaliknya mengubah tegangan menjadi suatu tekanan.

Prinsip kerja AFM dengan PRoses semikontak:

Cara Semikontak atau Tapping Mode bisa disebut juga (intermittent contact mode). Selama pencitraan (scanning) berlangsung , permukaan cantilever atau tip berosilasi atau mengalami vibrasi secara sinusoidal dengan frekuensi cantilever sekitar 70-400 Hz degan amplitude sekitar 20-100 nm.


Osilasi amplitudo dan fasa dideteksi oleh sensor fotodioda dengan tingkat sesnsitifitas yang sangat tinggi lalu dianalisis oleh rangkaian elektronik seperti Lock-In Amplifier atau Digital Signal Processing (DSP) lainnya

Cara Semikontak atau Tapping Mode bisa disebut juga (intermittent contact mode). Selama pencitraan (scanning) berlangsung , permukaan cantilever atau tip berosilasi atau mengalami vibrasi secara sinusoidal dengan frekuensi cantilever sekitar 70-400 Hz degan amplitude sekitar 20-100 nm.


Osilasi amplitudo dan fasa dideteksi oleh sensor fotodioda dengan tingkat sesnsitifitas yang sangat tinggi lalu dianalisis oleh rangkaian elektronik seperti Lock-In Amplifier atau Digital Signal Processing (DSP) lainnya



Amplitudo yang dihasilkan dibandingkan dengan amplitudo yang telah ditetapkan pada posisi awal, perbedaanya atau error dari perbandingan sinyal tersebut digunakan untuk menetapkan arah sumbu-z pada piezoscanner.
Selama osliasi berlangsing antara Amplitudo 20-100 nm, tip akan berinteraksi dengan beberpa gaya termasuk gaya tarik antara tip dan sampel juga gaya lain seperti gaya hambat


NAhhh,,, begitulah prisip kerjanya pyuhh,,,

Semoga Bermanfaat

4 komentar:

ivekh mengatakan...

yosshh,,, semoga lahir kembali cwndikiawan2 muslim di Bidang Science Amiinnn,,,

Anonim mengatakan...

kakak, memangnya melihat dunia atom tidak bisa menggunakan lup?

ivekh mengatakan...

biisa,,, tapi pake lup produk lembang jangan produk cibaduyut,, sipp... coba beli di emang o'e

mamang mengatakan...

vekh, jambangan blog gawean urg nya,
semangatbelajar.com

obon.